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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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太赫茲探測(cè)器 THZ-D系列：直接的光譜響應(yīng):在整個(gè)THz范圍內(nèi)獲得高精度；適用于我們的標(biāo)準(zhǔn)通用顯示器MAESTRO系列和 M-LINK系列。
太赫茲探測(cè)器 THZ-I-BNC系列，帶集成模擬（BNC）模塊的THz探測(cè)器（不需要顯示器）。
太赫茲探測(cè)器 THZ-B系列，數(shù)字（T-Rad）或模擬模塊（T-Rad-Analog）可選。
太赫茲探測(cè)器 QS-THZ系列，提供2種尺寸 : 5 和 9 mm Ø 孔徑；寬動(dòng)態(tài)范圍從 nW 到 mW。
UD系列傳感器圓盤(pán)是為了集成到激光系統(tǒng)中而設(shè)計(jì)的。如果您已經(jīng)在系統(tǒng)中設(shè)計(jì)了冷卻和信號(hào)處理，它們就是解決方案。
離散式熱釋電探測(cè)器：有4種尺寸可供選擇：2，3，5和9毫米孔徑，測(cè)試箱可用于混合探測(cè)器。
位移傳感探測(cè)器-QUAD 系列，可用于功率（QUAD-P）和能量（QUAD-E）測(cè)量。
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傳真：010-68214292
郵箱：gloria.yang@opcrown.com
地址：北京市門(mén)頭溝區(qū)蓮石湖西路98號(hào)院7號(hào)樓1006室
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