熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡要描述:M2測量系統(tǒng) BEAMAGE-M2系列獲取一系列光束輪廓測量結(jié)果,以在幾秒鐘內(nèi)自動執(zhí)行光束質(zhì)量進行測量。 它配備了大光學(xué)元件,便于對準和快速測量,是您可以信賴的產(chǎn)品。 它的軟件既直觀又符合ISO標準。
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